测量原理丨英示1108系列数显卡尺的技术原理
2026-09-24
1、容栅位移传感测量技术(核心测量基础)
主尺与滑动尺框内部搭载平行容栅电极阵列, 滑动尺框移动时, 两组电极间电容耦合强度产生周期性变化, 内部微处理器将电容信号转化为线性位移电信号, 分辨率稳定达到 0.01mm/0.0005 英寸, 同时支持公英制双单位同步换算, 是卡尺高精度读数的底层支撑。
2、智能电源与自动唤醒控制技术
尺身拉动自动开机, 20 分钟无操作自动休眠, CR2032 纽扣电池长效续航。
主尺与滑动尺框内部搭载平行容栅电极阵列, 滑动尺框移动时, 两组电极间电容耦合强度产生周期性变化, 内部微处理器将电容信号转化为线性位移电信号, 分辨率稳定达到 0.01mm/0.0005 英寸, 同时支持公英制双单位同步换算, 是卡尺高精度读数的底层支撑。
尺身拉动自动开机, 20 分钟无操作自动休眠, CR2032 纽扣电池长效续航。