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技术参数

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型号 测量范围 精度 样品分析站
BET-S410-Y 比表面积≥0.001m²/g, 介孔分析2~50nm, 大孔分析50~500nm 比表面积>1m²/g, ±1%, 比表面积≤1m²/g的样品, ±1.5%, 孔径重复偏差<0.02nm 4工位
BET-S610-Y 比表面积≥0.001m²/g, 介孔分析2~50nm, 大孔分析50~500nm 比表面积>1m²/g, ±1%, 比表面积≤1m²/g的样品, ±1.5%, 孔径重复偏差<0.02nm 6工位
BET-S810-Y 比表面积≥0.001m²/g, 介孔分析2~50nm, 大孔分析50~500nm 比表面积>1m²/g, ±1%, 比表面积≤1m²/g的样品, ±1.5%, 孔径重复偏差<0.02nm 8工位

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